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BeamPeek™系统

更新时间:2022-12-20

浏览量:892

品牌：OPHIR
型号：BeamPeek
描述：BeamPeek™ 系统允许同时对增材制造 (AM) 激光器进行光束分析、焦斑大小和位置以及功率测量。它跟踪这些参数如何随时间变化，以帮助维持制造零件的质量和可重复性。...
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产品介绍

BeamPeek™系统的功能特性：

用户手册

BeamPeek™ 集成了激光光束分析仪相机、功率计、光束收集器、分束器和光学器件，为工业环境中的增材制造激光分析提供了一个全面的解决方案。

焦点尺寸
校准焦点位置以构建平面
激光功率
激光功率密度
光斑大小和功率随时间的变化

BeamPeek 允许在 1kW 的情况下使用被动冷却进行长达 2 分钟的连续测量，无需风扇或通过射束收集器可互换盒进行水/空气冷却。其工业设计使其易于集成到生产线中并在不干扰生产过程的情况下执行激光特性分析。

BeamPeek™系统图纸：

BeamPeek™系统规格：

Beam Profiling
波长	532nm, 1030-1080nm
最小-最大焦点尺寸	34.5µm - 2mm
功率范围	10 - 1000 瓦
焦距	150mm-800mm
焦点位置已校准	±100µm
光束分析	ISO 11146 测量
功率计	NIST 溯源校准 ±3%
遵守	CE、UKCA、中国 RoHS

BeamPeek™系统 FAQ

BP 是否需要定期校准？
是的，因为 BeamPeek 包括 Ophir 常规功率计。

相机传感器/焦平面位于何处？
与具有焦平面设置的 BeamCheck 不同，当激光焦点位于床表面时，相机传感器处于对焦状态，BeamPeek 相机传感器在底座/机器床上大约 75 毫米（精确值针对每个设备单独校准） . 为了使光束聚焦在相机传感器上，床身必须向下移动校准值。这种设置的原因是改进了功率处理：更高的功率和更长的高功率曝光时间。